超高分辨热场发射扫描电子显微镜(SEM)
应用范围
1) 适用于金属、陶瓷、高分子等各种材料的显微形貌观察和微区化学成分检测 2) 适用于不导电样品和磁性样品。
收费标准
1) 全部测试方法 :750元/小时; 2) 高分辨扫描图像二次电子或背散射观察: 600元/样(倍数50000-) 3) EDS点分析 :250元/点。; 4) EDS线分析 :300元/条线; 5) EDS面分析 :300元/面分布; 6) 元素分析：EDS点分析 :100元; 7) 形貌观察和元素分析 :150元/条线; 8) 形貌观察和元素分析 :EDS面分析 150元/样; 9) 现场测试：费用翻倍
仪器信息
仪器名称: 超高分辨热场发射扫描电子显微镜(SEM)
仪器品牌: JEOL
仪器型号: JSM-7800
功能参数
1) 分辨率：0.8nm(GB)(15kV) 2) 加速电压：0.01~30kV 3) 放大倍率：25~1000,000 4) 检测器：高位检测器（UED） 5) 背散射电检测器（BED） 6) 低位检测器（LED） 7) SHL透镜
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