合金高分辨场发射透射电镜(TEM)
适用领域
该仪器可完成材料组织形态、晶体结构、化学成分、界面结构,表面和缺陷等方面的测试与分析，应用于材料微观结构的观察和分析：形貌像分析；电子衍射图像分析；HRTEM 高分辨像；扫描透射（STEM）分析；EDX能谱分析
面向学科
可广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学， 金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料
样品要求
如果需要双喷电解制样，需客户自行磨样至30-50微米厚度否则没有薄区，测试老师不负责磨样；如果马氏体等硬相需要40微米以下，至少 3mm直径圆面积；由于电解双喷制样不能保证一次性成功，建议每个样品提供3-5块备用。
收费标准
1) 形貌：600元/样； 2) 高分辨形貌(HRTEM)：800元/样； 3) 点扫：+200元/样； 4) 线扫：+200元/样； 5) 能谱(EDS)：+200元/样； 6) 衍射：+200元/点/样； 7) Mapping只需要1个位置1000元/样；2个位置1500元/样 8) 双喷电解制样：200 注：形貌10张；形貌+高分辨15张
测试仪器
仪器名称：合金高分辨场发射透射电镜(TEM)
仪器型号：FEI TECNAI G2 F20
仪器厂家：美国 FEI公司
关 键 字：TEM、高分辨场发射透射电子显微镜、TEM、HTEM、HRTEM、EDS、钢铁TEM
仪器简要：该仪器配备了STEM, EDX, CCD, HAADF等多种附件，能获取TEM明场、暗场像高分辨像和选区电子衍射，能进行EDX能谱分析和高分辨STEM原子序数像的分析，STEM结合EDX点、线、面扫描的可以进行微区能谱分析，利用三维重构软件进行样品的三维重构和分析。
仪器参数
1) 加速电压：200KV 2) 放大倍数：25K-1030K 3) 点分辨率：0.24nm 4) 线分辨率：0.102nm 5) 信息分辨率：0.14nm 6) 样品倾斜角度:< ±30° 7) 相机常数: 30-4500 mm 8) 电子枪：肖特基热场发射电子枪
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