扫描电子显微镜(搭载EBSD探头)测试
测试样例
1) 样例1
2) 样例1
适用领域
金属、合金材料
面向学科
材料、机械等相关学科
样品要求
1、可以直接做EBSD数据采集的样品的基本要求：样品能产生计算机可以识别且能正确标定的菊池衍射花样、表面平整、清洁、无残余应力、导电性良好、尺寸合适，数据采集处理需提供样品中各相的物相以及晶体结构及原子占位信息，元素种类等，以及晶体学信息：晶体学数据库，ICCD，或者皮尔斯手册，再就是XRD标定用的PDF卡片里面。若不符合直接测试要求，需要选择合适的制样方法。 2、 样品尺寸要求：形状规整，尺寸不宜太大，长宽不超过10mm，厚度不超过5mm，测试面需要表面光滑，没有明显划痕。其他特殊需求请联系； 3、 样品的制备条件参考：金属样品：机械抛光+化学侵蚀（硬度较高、原子序数大）；机械抛光+电解抛光（纯金属/第二相细小的合金）； 金属基复合材料：同上或者氩离子抛光（抛光区域较小，一般800*800微米左右） 陶瓷样品：机械抛光、 氩离子抛光 4、测试面需要标记清楚，如需要特殊区域定位，请附上SEM图片或者光学图片给出具体定位信息； 5、寄送样品请固定好样品，测试面不要触碰到任何表面，避免表面划伤;
收费标准
1) 振动抛光制样 500元/样； 硅溶胶机械抛光制样 800元/样 ； 氩离子抛光制样：1000元/样； 2) 标准测试 700元/视图（一般采集时间半小时内，超时后根据具体情况收取费用），每个视图指一个区域一个倍数下，如果一个区域需要多个倍数，则为多个视图，视图大小一般为微米级，区域越大，采集时间越长，最大区域一般不超过1mm，如采集时间、步长等有要求，请提前联系项目经理
测试仪器
仪器名称:扫描电子显微镜（搭载EBSD探头） 仪器型号:FEI Nova Nano SEM/ 蔡司Sigma 500/ 蔡司 dual beam FESEM（搭载EBSD探头和原位拉伸台） 关键字:EBSD、取向、晶粒、织构、极图、物相分析
