分析样例
1) 样例
2) 样例
适用领域
1) 广泛地应用于各种金属材料和非金属材料的检验和研究 2) 在材料科学研究、金属材料、化学材料、半导体材料、陶瓷材料等多个领域进行材料的微观形貌、组织、成分分析，材料断口分析和失效分析 3) 各种材料的形貌组织观察；材料实时微区成分分析 4) 快速的多元素面扫描和线扫描分布测量；晶粒尺寸、形状分析，晶体、晶粒取向测量 5) 元素定量、定性成分分析 6) 晶体、晶粒的相鉴定
面向学科
化学、化工、高分子、材料、环境、生物、医学、药学、农学、地质、食品、生命科学等
样品要求
1) 请根据自己样品的性质及测试需求，自行查阅相关资料后，提供详细的测试条件（电压、电流、信号、放大倍数、标尺、理想的照片等） 2) 样品量不少于3 mg。可以接受固体、粉末、薄膜或纤维样品 3) 潮湿的样品不能测试。有机的样品需要具体沟通
收费标准
1) 形貌观察（无磁性、10万倍以下） 120元/样 2) 形貌观察（磁性样、5万倍以下） 200元/样 3) EDS能谱（随形貌2个区域） 80元/样
分析仪器
仪器名称：冷场发射扫描电镜显微镜 Hitachi S4800
仪器型号：S4800
仪器缩写： SEM
生产厂家：日本日立公司
仪器技术参数
1) 高分辨率FE-SEM对下列尖端材料进行解析时具有一定的效果 2) 对电子材料表面形状的高分辨率观察(5nm以下) 3) 对高分子复合材料的极低加速电压低损伤观察 4) 对纳米材料表面／内部结构的相辅性观察