测试样例
应用范围
1) X射线荧光光谱仪具有非破坏性、快速、精度高、定性及定量准确等优点，是原子吸收、ICP等仪器强有力的补充 2) X射线荧光光谱仪广泛应用于钢铁、有色、石化、地质、玻璃、电子、纳米材料等材料的化学元素成分快速分析
主要应用
1) 可应用于物理、化学、地质地理、环保、冶金、材料等领域中的成份分析以及工矿企业质量监控 2) 能对固体、粉末、薄膜以及纳米材料中的元素进行定性定量分析 3) 多层镀膜的每层元素定性定量分析，膜厚测 4) 样品微区分析
样品要求
1) 定性半定量分析：最好是粉末样品，粒度不超过180目，需2-4 g； 如果为固体样块，要求表面平整光洁无污染，直径34-38 mm，厚度为3-5 mm的圆柱； 如果为液体，需要5-15 ml。 定性半定量数据需注明要求氧化物形式或者单质形式 2) 定量分析：只能分析粉末，结果为氧化物形式，需3-5 g
收费标准
1) 定性分析 200元/样 2) 定量分析 300元/样
主要特点
1) 可以实现样品的无损检测 2) 在没有标样的情况下对样品进行全元素（9F-92U）分析 3) 样品处理相对简单 4) 峰背比较高，分析灵敏度高
检测项目
1) 样品进行全元素（9F-92U）定性半定量检测 2) 指定元素（9F-92U）定性定量检测
可测试标准
1) DB34/T 21272-2014 区域地球化学调查样品分析方法第2部分：X射线荧光光谱法多元素含量的测定 2) DB44/T 1602-2015 石材成分分析方法 X射线荧光光谱法 3) DB44/T 1091-2012建材产品中废渣掺加量的测定 X射线荧光光谱法 4) GB/T 14849.5-2014工业硅化学分析方法 第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法 5) GB/T 24231-2009铬矿石 镁、铝、硅、钙、钛、钒、铬、锰、铁和镍含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法 6) GB/T 660930-2009氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第30部分：X射线荧光光谱法测定微量元素含量 7) GB/T 6730.62-2005矿石钙、硅、镁、钛、磷、锰、铝和钡含量的测定波长色散X射线荧光光谱法 8) SN/T 2696-2010煤灰和焦炭灰成分中主、次元素的测定 X射线荧光光谱法 9) SN/T 3093-2012残渣燃料油中钠、铝、硅、钙、钒、铁、镍的测定 波长色散X射线荧光光谱法 10) SN/T 3321.3-2015石灰石和白云石分析方法 第3部分：主次成分含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法 11) SN/T 3318.2-2015锆英砂化学分析方法 第2部分：锆、铁、钛含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法 12) YS/T 57523-2009铝土矿石化学分析方法 第23部分 X射线荧光光谱法测定元素
设备介绍
1) 样品进行全元素（9F-92U）定性半定量检测 2) 指定元素（9F-92U）定性定量检测
测试仪器
岛津XRF-1800型波长色散荧光光谱仪
X射线荧光光谱分析(X-Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X-Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线，
所以X射线荧光仍是X射线， 一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成， X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。
受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性，探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量
及数量，只要测出一系列X射线荧光谱线的波长，即能确定元素的种类；测得谱线强度并与标准样品比较，即可确定该元素的含量，由此建立了X射线荧光光谱（XRF）分析法，
利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素，实际应用中，有效的元素测量范围为9号元素（F）到92号元素（U）。
仪器技术参数
1) 分析元素：9F~92U 2) X射线管：4kW薄窗、Rh靶 3) 分光器：目前6种晶体可交换，5种狭缝可交换 4) 超高速分析功能（300/min） 5) 制样：定性半定量附带玛瑙坩埚，可无污染制样；定量分析附带马弗炉，自动融样炉，可进行融片法分析
仪器技术参数
1) 分析元素：9F~92U 2) X射线管：4kW薄窗、Rh靶 3) 分光器：目前6种晶体可交换，5种狭缝可交换 4) 超高速分析功能（300/min） 5) 制样：定性半定量附带玛瑙坩埚，可无污染制样；定量分析附带马弗炉，自动融样炉，可进行融片法分析